รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 1-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 1 ทั่วไป
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 1: GENERAL
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-1 edition 1.0 (2002-08)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง หน้า 23
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-1 edition 1.0 (2002-08) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 1: General มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- ใช้กับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ (ทั้งอุปกรณ์ไม่รวมหน่วยและวงจรรวม) และจัดทำเป็นข้อกำหนดทั่วไปให้กับมาตรฐานเล่มอื่นทั้งหมดในอนุกรม
- กรณีที่มีข้อขัดแย้งระหว่างมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้กับข้อกำหนด
ที่เกี่ยวข้องกับการจัดซื้อจัดจ้าง ให้กำหนดตามข้อกำหนดที่มาทีหลัง