รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 2-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 2 แรงดันอากาศต่ำ
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 2: LOW AIR PRESSURE
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-2 edition 1.0 (2002-04)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-2 edition 1.0 (2002-04) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 2: Low air pressure มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกัน
ทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- ครอบคลุมการทดสอบของแรงดันอากาศต่ำกับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ
การทดสอบนี้เป็นจุดประสงหลักในการกำหนดความสามารถของส่วนประกอบและวัสดุในการหลีกเลี่ยงความล้มเหลวจากแรงดันไฟฟ้า เนื่องจากความเค้นไดอิเล็กทริก (dielectric strength) ของอากาศลดลงและวัสดุฉนวนอื่นที่ความดันลดลง การทดสอบนี้ใช้เฉพาะกับอุปกรณ์ที่มีแรงดันไฟฟ้าเกิน 1 000 V.
- การทดสอบนี้ใช้กับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่อยู่ในบรรจุภัณฑ์แบบมีช่อง
การทดสอบนี้มีจุดประสงค์ใช้งานทางทหารและที่เกี่ยวข้องกับอวกาศเท่านั้น
- โดยทั่วไปการทดสอบแรงดันอากาศต่ำนี้เป็นไปตาม IEC 60068-2-13
แต่เนื่องจากข้อกำหนดเฉพาะของสารกึ่งตัวนำ ให้พิจารณาในแต่ละหัวข้อของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้