60749 เล่ม 3-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 3 การตรวจพินิจภายนอก
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 3: EXTERNAL VISUAL EXAMINATION
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-3 edition 2.0 (2017-03)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง หน้า 25
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-3 edition 2.0 (2017-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 3: External visual examination มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- วัตถุประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ เพื่อใช้ทวนสอบว่าวัสดุ การออกแบบ โครงสร้าง การทำเครื่องหมาย และการทำงานของอุปกรณ์
สารกึ่งตัวนำเป็นไปตามที่กำหนดในเอกสารจัดซื้อจัดจ้างที่ใช้ การตรวจพินิจภายนอกเป็นการทดสอบแบบไม่ทำลายและเหมาะสมกับทุกประเภท
บรรจุภัณฑ์ การทดสอบนี้เป็นประโยชน์สำหรับการตรวจสอบคุณสมบัติ
การตรวจติดตามกระบวนการ การยอมรับรุ่นการผลิต