รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 4-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 4 ความร้อนชื้น สถานะคงที่ การทดสอบความเค้นเร่งสูง (HAST)
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 4: DAMP HEAT, STEADY STATE, HIGHLY ACCELERATED STRESS TEST (HAST)
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-4 edition 2.0 (2017-03)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง หน้า 26
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-4 edition 2.0 (2017-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) มาใช้
โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical)
โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- กำหนดการทดสอบความเค้นที่ความเร่งว่าด้วยอุณหภูมิและความชื้น (HAST) เพื่อวัตถุประสงค์ในการประเมินความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์
สารกึ่งตัวนำในบรรจุภัณฑ์ปิดไม่แน่น (non-hermaric packages)
ในภาวะแวดล้อมชื้น