รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 5-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 5 การทดสอบอายุไบอัสที่อุณหภูมิและความชื้นสภาวะคงที่
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 5: STEADY-STATE TEMPERATURE HUMIDITY BIAS LIFE TEST
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-5 edition 3.0 (2023-12
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง หน้า 27
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-5 edition 3.0 (2023-12) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods –
Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test มาใช้
โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- กำหนดการทดสอบอายุไบอัส (bias) ที่อุณหภูมิและความชื้นสภาวะคงที่(steady-state) ในการประเมินความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ
ในบรรจุภัณฑ์ปิดไม่แน่น (non-hermaric packages) ในภาวะแวดล้อมชื้น
- วิธีทดสอบนี้ถือเป็นแบบทำลาย