รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 6-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 6 การเก็บรักษาที่อุณหภูมิสูง
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 6: STORAGE AT HIGH TEMPERATURE
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-6 edition 2.0 (2017-03)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง หน้า 28
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-6 edition 2.0 (2017-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 6: Storage at high temperature มาใช้โดย
วิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical)
โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- วัตถุประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้เป็นการทดสอบและพิจารณาผลกระทบต่อการเก็บรักษาสารกึ่งตัวนำ (solid-state electronics device) ที่อุณหภูมิสูงโดยไม่มีความเค้นทางไฟฟ้า โดยทั่วไปการทดสอบ
นี้ใช้พิจารณาผลกระทบของเวลาและอุณหภูมิภายใต้ภาวการณ์เก็บรักษา
ด้วยวิธีกระตุ้นความล้มเหลวทางความร้อนและเวลาการล้มเหลวของอุปกรณ์
สารกึ่งตัวนำ รวมถึงอุปกรณ์หน่วยความจำถาวร (non-volatile memory devices) ซึ่งเป็นกลไกความล้มเหลวการคงอยู่ของข้อมูล การทดสอบนี้เป็นแบบไม่ทำลายแต่ควรใช้สำหรับพิจารณาคุณสมบัติของอุปกรณ์ ถ้าอุปกรณ์มีการส่งมอบ (delivery) จะต้องประเมินผลกระทบของการทดสอบความเค้น
ที่ความเร่งสูง
- กลไกความล้มเหลวที่กระตุ้นทางความร้อนเป็นแบบจำลองที่ใช้สมการ
อาร์เรเนียส (arrhenius equation) สำหรับการเร่งความเร็วและข้อแนะนำการเลือกอุณหภูมิและระยะเวลาทดสอบค้นหาได้จาก IEC 60749-43