60749 เล่ม 9-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 9 ความคงทนของเครื่องหมาย
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 9: PERMANENCE OF MARKING
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-9 edition 2.0 (2017-03)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง หน้า 31
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-9 edition 2.0 (2017-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 9: Permanence of marking มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- จุดประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้เป็นการพิจารณาเครื่องหมายบนอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่ยังสามารถอ่านได้เมื่อได้ใช้งานแล้ว
และถอดฉลากหรือการใช้ตัวทำละลายและสารทำความสะอาดที่ใช้สามัญ
ในการกำจัดฟลักซ์บัดกรีตกค้างจากกระบวนการผลิตแผงวงจรพิมพ์
- การทดสอบนี้สามารถใช้ได้กับทุกประเภทบรรจุภัณฑ์ทั้งหมด การทดสอบนี้เหมาะสำหรับตรวจสอบคุณสมบัติ และ/หรือการทดสอบเฝ้าระวังในกระบวนการ การทดสอบนี้เป็นแบบไม่ทำลาย ผลิตภัณฑ์ที่ไม่เป็นไปตามข้อกำหนดทางไฟฟ้าและทางกลสามารถใช้การทดสอบนี้ได้
หมายเหตุ 1 ขั้นตอนนี้ไม่สามารถใช้กับบรรจุภัณฑ์ที่พิมพ์ด้วยเลเซอร์
- ตัวทำละลายที่มีอยู่มากมายในท้องตลาดนั้นอาจมีฤทธิ์ไม่เพียงพอ อาจมีความเข้มข้นมากเกินไป หรืออาจเป็นอันตรายต่อมนุษย์เมื่อสัมผัสโดยตรงหรือสูดดมไอเข้าไป
หมายเหตุ 2 ส่วนประกอบของตัวทำละลายใช้ในมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ถือว่าเป็นปกติที่ใช้และเป็นตัวแทนของความเข้มข้นที่ต้องการ
เพื่อใช้พิจารณาในการเคลือบและการทำเครื่องหมายทั่วไป