รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 11-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 11 การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว - อ่างควบคุมอุณหภูมิของไหล (two-fluid-bath method
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 11: RAPID CHANGE OF TEMPERATURE - TWO-FLUID-BATH METHOD
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-11 edition 1.0 (2002-04)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง หน้า 33
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-11 edition 1.0 (2002-04) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกัน
ทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- กำหนดวิธีทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็วและวิธีทดสอบด้วยอ่างควบคุมอุณหภูมิของไหล (two-fluid-bath method) เมื่อทดสอบ
ทั้งสองวิธีทดสอบซึ่งใช้ตรวจสอบสมบัติของอุปกรณ์ ผลของวัฏจักร
การเปลี่ยนอุณหภูมิจะมีลำดับสำคัญกว่าผลจากวิธีทดสอบด้วยอ่างควบคุมอุณหภูมิของไหล วิธีการทดสอบนี้อาจใช้ทดสอบหาผลกระทบของการแช่ในของเหลวร้อนที่ใช้ในการทำความสะอาดอุปกรณ์ได้ โดยใช้จำนวนรอบ
การทดสอบน้อยลง เช่น 5-10 รอบ
- การทดสอบนี้ใช้ได้กับทุกอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ การทดสอบนี้ถือเป็นแบบทำลายเว้นแต่มีการกำหนดรายละเอียดเป็นอย่างอื่นในข้อกำหนดที่เกี่ยวข้อง
- โดยทั่วไปวิธีทดสอบการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิอย่างรวดเร็วและ
วิธีทดสอบด้วยอ่างควบคุมอุณหภูมิของไหล สอดคล้องตาม
IEC 60068-2-14 แต่เนื่องจากเป็นข้อกำหนดเฉพาะของสารกึ่งตัวนำ
ให้ปฏิบัติตามมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้