รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 12-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 12 การสั่น ความถี่ผันแปร
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 12: VIBRATION, VARIABLE FREQUENCY
มอก. มาตรฐานทั่วไป
29 สิงหาคม 2568
IEC 60749-12 Edition 2.0 (2017-12)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 283 ง หน้า 34
28 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-12 Edition 2.0 (2017-12) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 12: Vibration, variable frequency มาใช้โดย
วิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้
IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- อธิบายการทดสอบเพื่อพิจารณาผลกระทบของการสั่นความถี่ผันแปรภายในช่วงความถี่ที่ระบุต่อองค์ประกอบโครงสร้างภายใน การทดสอบนี้
เป็นการทดสอบแบบทำลาย โดยปกติจะใช้ได้กับบรรจุภัณฑ์มีช่องอากาศ
หมายเหตุ วิธีการทดสอบนี้อธิบายการทดสอบไซน์แบบกวาด (swept sine test)
การทดสอบการสั่นแบบสุ่มอธิบายไว้ในมาตรฐาน JESD 22-B103 โดย
องค์กรมาตรฐาน JEDEC