รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 17-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 17 การฉายรังสีนิวตรอน
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 17: NEUTRON IRRADIATION
มอก. มาตรฐานทั่วไป
30 สิงหาคม 2568
IEC 60749-17 Edition 2.0 (2019-03)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 284 ง หน้า 44
29 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-17 Edition 2.0 (2019-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 17: Neutron irradiation มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้
IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- การทดสอบการฉายรังสีนิวตรอนใช้พิจารณากำหนดความอ่อนไหวของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำต่อการเสื่อมสภาพการสูญเสียพลังงานไม่ก่อไอออน (non-ionizing energy loss (NIEL)) การทดสอบนี้ใช้ได้กับอุปกรณ์
สารกึ่งตัวนำไม่รวมหน่วยและวงจรรวม และใช้สำหรับงานที่เกี่ยวข้องกับการทหารและอวกาศ วิธีทดสอบนี้เป็นการทดสอบแบบทำลาย
-วัตถุประสงค์ของการทดสอบมีดังนี้
ก) เพื่อตรวจจับและวัดการเสื่อมสภาพของพารามิเตอร์อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่สำคัญตามฟังก์ชันของความคล่องแคล่วของนิวตรอน และ
ข) เพื่อพิจารณาพารามิเตอร์อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่ระบุอยู่ภายในขีดจํากัดที่กำหนดหรือไม่หลังจากการสัมผัสกับระดับที่ระบุความคล่องแคล่วของนิวตรอน (ดูข้อ 6)