รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 18-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 18 รังสีก่อไอออน (ปริมาณรวม)
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 18: IONIZING RADIATION (TOTAL DOSE)
มอก. มาตรฐานทั่วไป
30 สิงหาคม 2568
IEC 60749-18 Edition 2.0 (2019-04)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 284 ง หน้า 45
29 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-18 Edition 2.0 (2019-04) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 18: Ionizing radiation (total dose) มาใช้โดย
วิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้
IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- กำหนดขั้นตอนการทดสอบสำหรับนิยามข้อกำหนดการทดสอบวงจรรวม
สารกึ่งตัวนำแบบบรรจุและอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำแบบไม่รวมหน่วยสำหรับผลกระทบของรังสีก่อไอออน (ปริมาณรวม) จากแหล่งกำเนิด
รังสีแกมมาโคบอลต์-60 (60Co) หรือแหล่งกำเนิดรังสีอื่น ๆ ที่เหมาะสม
- มีการทดสอบ 4 วิธีในมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้
ก) การทดสอบการฉายรังสีที่อุณหภูมิห้องมาตรฐาน
ข) การฉายรังสีที่การทดสอบในอุณหภูมิสูง/อุณหภูมิแช่เยือกแข็ง
ค) การทดสอบเร่งการอบอ่อน
ง) การทดสอบความไวต่ออัตราปริมาณรังสีต่ำที่เพิ่มขึ้น (enhanced low dose rate sensitivity (ELDRS))
- การทดสอบเร่งการอบอ่อนจะประเมินว่าอัตราปริมาณรังสีก่อไอออนส่งผลต่ออุปกรณ์มีความสำคัญสำหรับอัตราปริมาณรังสีต่ำหรือการใช้งานอื่น ๆ บางอย่างที่อุปกรณ์สามารถแสดงผลที่ขึ้นอยู่กับเวลาอย่างมีนัยสำคัญอย่างไร การทดสอบ ELDRS ใช้พิจารณาว่าอุปกรณ์ที่มีส่วนประกอบเชิงเส้นสองขั้วแสดงความไวต่อความเสียหายที่เกิดจากรังสีที่เพิ่มขึ้นในอัตราปริมาณรังสีต่ำหรือไม่
- กล่าวเฉพาะการฉายรังสีในสภาวะคงที่ (steady-state) และใช้ไม่ได้กับ
การฉายรังสีแบบพัลส์ (pulse type irradiations)
- การทดสอบนี้สำหรับการใช้งานที่เกี่ยวข้องกับการทหารและอวกาศ
- ทำให้เกิดการเสื่อมสภาพอย่างรุนแรงของสมบัติทางไฟฟ้าของอุปกรณ์ที่
ฉายรังสี ดังนั้นจึงเป็นการทดสอบแบบทำลาย