รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 23-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 23 อายุการทำงานที่อุณหภูมิสูง
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 23: HIGH TEMPERATURE OPERATING LIFE
มอก. มาตรฐานทั่วไป
30 สิงหาคม 2568
IEC 60749-23 Edition 1.1 (2011-03)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 284 ง หน้า 51
29 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-23 Edition 1.1 (2011-03) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้
IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- การทดสอบนี้ใช้เพื่อหาผลกระทบของภาวะไบอัส (bias condition)
และอุณหภูมิต่ออุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์มีสารกึ่งตัวนำ (solid state device) ในเวลาหนึ่ง โดยจะจำลองภาวะการทำงานของอุปกรณ์ในลักษณะเร่งภาวะ ซึ่งใช้เป็นหลักในการตรวจสอบคุณภาพและความเชื่อถือได้ของอุปกรณ์ รูปแบบหนึ่งของอายุไบอัสที่อุณหภูมิสูงโดยใช้ระยะเวลาสั้น ซึ่งรู้จักกันว่า 'การทดสอบอุปกรณ์ในสภาวะที่รุนแรง (burn-in)' อาจใช้เพื่อคัดกรอง
ความล้มเหลวที่เกิดขึ้นในช่วงต้นของการใช้งาน (infant mortality) รายละเอียดของการใช้และการนำไปใช้งานของการทดสอบอุปกรณ์ในสภาวะที่รุนแรงอยู่นอกเหนือขอบข่ายของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้