รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 24-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 24 การเร่งความต้านทานความชื้น - HAST แบบไม่ไบอัส
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 24: ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED HAST
มอก. มาตรฐานทั่วไป
30 สิงหาคม 2568
IEC 60749-24 Edition 1.0 (2004-03)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 284 ง หน้า 52
29 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-24 Edition 1.0 (2004-03) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- การดำเนินการเร่งสูงการทดสอบความเครียดที่เร่งสูงแบบไม่ไบอัส
(highly accelerated stress testing : HAST) เพื่อประเมินความเชื่อถือได้ของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ (solid-state device) ที่ไม่ได้บรรจุใน
ลักษณะปิดสนิทแน่นในสภาพแวดล้อมที่มีความชื้น
- การทดสอบเป็นการเร่งสูงที่ใช้ทั้งผลของอุณหภูมิและความชื้นในสภาวะ
ที่ไม่เกิดการควบแน่น เพื่อเร่งการซึมผ่านของความชื้นผ่านวัสดุป้องกัน
จากภายนอก (การห่อหุ้มหรือการปิดสนิท) หรือ ระหว่างวัสดุป้องกันภายนอกกับตัวนำโลหะที่ผ่านมัน การทดสอบนี้จะไม่ไบอัสเพื่อให้มั่นใจว่าสามารถค้นพบกลไกความล้มเหลวที่อาจไม่พบโดยไบอัส (เช่น การกัดกร่อน
ทางไฟฟ้า)
- การทดสอบนี้ใช้เพื่อระบุกลไกความล้มเหลวภายในบรรจุภัณฑ์และ
เป็นการทดสอบแบบทำลาย
หมายเหตุ การทดสอบนี้เป็นการเขียนใหม่ทั้งหมดจากการทดสอบที่ระบุ
ในข้อ 4C ของเล่ม 3 ของ IEC 60749 (1996) (โดยไม่ไบอัส)