60749 เล่ม 28-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 28 การทดสอบความไวต่อการปล่อยประจุไฟฟ้าสถิต (ESD) - แบบจำลองอุปกรณ์ที่มีประจุ (CDM) - ระดับอุปกรณ์
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 28: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - CHARGED DEVICE MODEL (CDM) -DEVICE LEVEL
มอก. มาตรฐานทั่วไป
30 สิงหาคม 2568
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 284 ง หน้า 56
29 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-28 Edition 2.0 (2022-03) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC
ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- กำหนดขั้นตอนสำหรับการทดสอบ การประเมินผล และการจัดประเภทอุปกรณ์และวงจรไมโครตามความละเอียดอ่อน (ความไว) ของอุปกรณ์นั้น
ต่อความเสียหายหรือการเสื่อมสภาพโดยการรับการปล่อยประจุไฟฟ้าสถิต (electrostatic discharge : ESD) กับแบบจำลองอุปกรณ์ที่มีประจุ (charged device model : CDM) โดยการเหนี่ยวนำสนามไฟฟ้า
ที่กำหนดไว้ อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่บรรจุในบรรจุภัณฑ์ทั้งหมด,
วงจรฟิล์มบาง, อุปกรณ์คลื่นเสียงพื้นผิว (surface acoustic wave : SAW),
อุปกรณ์แสงอิเล็กทรอนิกส์, วงจรรวมไฮบริด (hybrid integrated circuits : HICs) และโมดูลหลายชิป (multi-chip modules : MCMs) ที่มีอุปกรณ์เหล่านี้ต้องได้รับการประเมินตามมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ ในการ
ทำการทดสอบจะประกอบอุปกรณ์เป็นชุดเช่นเดียวกับในลักษณะการใช้งานสุดท้าย CDM ในมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ไม่ใช้กับเครื่องทดสอบแบบจำลองการปล่อยประจุมีซ็อกเก็ต (socketed discharge model tester) มาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้อธิบายวิธีเหนี่ยวนำสนาม (field-induced : FI) สำหรับสัมผัสโดยตรง (direct contact : DC)
เป็นวิธีทางเลือกอธิบายในภาคผนวก J
- วัตถุประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ใช้กำหนดวิธีทดสอบ
ที่สามารถทำซ้ำความล้มเหลวแบบ CDM และให้ผลทดสอบ CDM ESD
ที่เชื่อถือได้และทำซ้ำได้จากเครื่องทดสอบทุกเครื่อง โดยไม่คำนึงถึงประเภทของอุปกรณ์ ข้อมูลที่ทำซ้ำได้จะช่วยให้การจำแนกประเภทและ
การเปรียบเทียบระดับความไวต่อ CDM ESD อย่างแม่นยำ