รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 31-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 31 ความไวไฟของอุปกรณ์ที่มีการห่อหุ้มด้วยพลาสติก (ที่เกิดจากภายใน)
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 31: FLAMMABILITY OF PLASTIC-ENCAPSULATED DEVICES (INTERNALLY INDUCED)
มอก. มาตรฐานทั่วไป
30 สิงหาคม 2568
IEC 60749-31 Edition 1.0 (2002-08)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 284 ง หน้า 59
29 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-31 Edition 1.0 (2002-08) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting)
ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- ใช้กับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ (ทั้งอุปกรณ์ไม่รวมหน่วยและวงจรรวม)
- วัตถุประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้เพื่อตรวจสอบการติดไฟของอุปกรณ์จากการให้ความร้อนภายในที่เกิดจากการโหลดเกินขนาด
หมายเหตุ การทดสอบนี้เทียบเท่ากับวิธีทดสอบที่ระบุในข้อ 1.1 ของเล่ม 4 ของ IEC 60749 (1996) หากไม่มีการเปลี่ยนแปลงในข้อดังกล่าว การเพิ่มเติมหัวเรื่องของข้อ 2 และ ข้อ 3 และการเปลี่ยนสารบัญหัวข้อ