รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 35-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 35 กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกสำหรับส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ที่ห่อหุ้มด้วยพลาสติก
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 35: ACOUSTIC MICROSCOPY FOR PLASTIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
มอก. มาตรฐานทั่วไป
31 สิงหาคม 2568
IEC 60749-35 Edition 1.0 (2006-07)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 285 ง หน้า 17
30 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-35 Edition 1.0 (2006-07) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- ระบุขั้นตอนการตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อะคูสติกบนส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ที่ห่อหุ้มด้วยพลาสติก มาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้
ให้แนวทางในการใช้กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกเพื่อตรวจจับความผิดปกติ (เช่น การหลุดลอก รอยแตก ช่องว่างจากสารอัดแบบ (mould-compound) ) ที่ทําซ้ำได้และไม่ทำลายบรรจุภัณฑ์พลาสติก