รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 36-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 36 ความเร่งในสภาวะคงที่
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 36: ACCELERATION, STEADY STATE
มอก. มาตรฐานทั่วไป
31 สิงหาคม 2568
IEC 60749-36 Edition 1.0 (2003-02)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 285 ง หน้า 18
30 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-36 Edition 1.0 (2003-02) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -
Part 36: Acceleration, steady state มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษ
เป็นหลัก
- แสดงการทดสอบเพื่อหาผลกระทบของความเร่งคงที่บนอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำชนิดช่องว่าง (cavity-type) เป็นการทดสอบแบบเร่งที่ออกแบบมาเพื่อระบุประเภทของจุดอ่อนทางโครงสร้างและทางกล ซึ่งไม่จำเป็นต้องตรวจพบในการทดสอบแรงกระแทกและการสั่นสะเทือน อาจใช้เป็นการทดสอบ
ความเค้นสูง (การทดสอบแบบทำลาย) เพื่อหาขีดจำกัดทางกลของ
บรรจุภัณฑ์ การเคลือบโลหะภายในและระบบตะกั่ว การยึดติดแม่พิมพ์ (die) หรือซับสเตรต (substrate) และองค์ประกอบอื่น ๆ ของอุปกรณ์
ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ เมื่อกำหนดระดับความเค้นที่เหมาะสมแล้ว วิธีทดสอบนี้ยังสามารถใช้เป็นการตรวจสอบแบบไม่ทำลาย 100% ในสายการผลิตเพื่อตรวจจับและกำจัดอุปกรณ์ที่มีความแข็งแรงทางกลต่ำกว่าปกติในองค์ประกอบโครงสร้างใด ๆ
- โดยทั่วไป วิธีการทดสอบความเร่งในสภาวะคงที่นี้สอดคล้องตาม
IEC 60068-2-7 แต่เนื่องจากข้อกําหนดเฉพาะของสารกึ่งตัวนำ จึงใช้ข้อกำหนดของมาตรฐานนี้ไปใช้