รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 38-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 38 วิธีทดสอบข้อผิดพลาดชั่วคราวสำหรับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่มีหน่วยความจำ
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 38: SOFT ERROR TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES WITH MEMORY
มอก. มาตรฐานทั่วไป
31 สิงหาคม 2568
IEC 60749-38 Edition 1.0 (2008-02)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 285 ง หน้า 20
30 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-38 Edition 1.0 (2008-02) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- กำหนดขั้นตอนสำหรับการวัดความไวต่อข้อผิดพลาดชั่วคราวของอุปกรณ์
สารกึ่งตัวนำที่มีหน่วยความจำเมื่ออยู่ภายใต้อนุภาคพลังงาน เช่น รังสีอัลฟา โดยมีการอธิบายการทดสอบในสองวิธีการ การทดสอบแบบเร่งโดยใช้แหล่งกำเนิดรังสีอัลฟา และการทดสอบระบบเวลาจริง (real-time)
(แบบไม่มีความเร่ง) ซึ่งข้อผิดพลาดใด ๆ เกิดขึ้นภายใต้สภาวะของรังสีที่เกิดขึ้นตามธรรมชาติซึ่งอาจเป็นรังสีอัลฟาหรือรังสีอื่น ๆ เช่น นิวตรอน เพื่อระบุลักษณะความสามารถข้อผิดพลาดชั่วคราวของวงจรรวมที่มีหน่วยความจำอย่างสมบูรณ์ อุปกรณ์ต้องได้รับการทดสอบในสเปกตรัมพลังงานสูงที่กว้างและนิวตรอนความร้อนโดยใช้วิธีการทดสอบเพิ่มเติม วิธีการทดสอบนี้สามารถใช้ได้กับอุปกรณ์วงจรรวมที่มีหน่วยความจำชนิดใดก็ได้