รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 41-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 41 วิธีทดสอบความน่าเชื่อถือมาตรฐานของอุปกรณ์หน่วยความจำถาวร
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 41 STANDARD RELIABILITY TESTING METHODS OF NON-VOLATILE MEMORY DEVICES
มอก. มาตรฐานทั่วไป
31 สิงหาคม 2568
IEC 60749-41 Edition 1.0 (2020-07)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 285 ง หน้า 23
30 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-41 Edition 1.0 (2020-07) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- ระบุข้อกำหนดตามขั้นตอนสำหรับการทดสอบความทนทาน การเก็บรักษา และการทดสอบข้ามอุณหภูมิที่ถูกต้องตามข้อกำหนดคุณสมบัติ ข้อกำหนดด้านคุณสมบัติความทนทานและการเก็บรักษา (สำหรับการนับรอบ ระยะเวลา อุณหภูมิ และขนาดตัวอย่าง) ระบุไว้ใน JESD 47 หรือพัฒนาโดยใช้วิธีบนความรู้พื้นฐาน (knowledge-based) เช่น ใน JESD94