รายละเอียดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม
60749 เล่ม 42-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 42 การเก็บรักษาในสภาพอุณหภูมิและความชื้น
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 42: TEMPERATURE AND HUMIDITY STORAGE
มอก. มาตรฐานทั่วไป
31 สิงหาคม 2568
IEC 60749-42 Edition 1.0 (2014-08)
ประกาศและงานทั่วไป
142
พิเศษ 285 ง หน้า 24
30 สิงหาคม 2568
26 มีนาคม 2568
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-42 Edition 1.0 (2014-08) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้
IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก
- ให้วิธีการทดสอบเพื่อประเมินความทนทานของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่ใช้ในสภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิสูงและความชื้นสูง
- วิธีการทดสอบนี้ใช้เพื่อประเมินความทนทานต่อการกัดกร่อนของการเชื่อมต่อโลหะในชิปของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่บรรจุในบรรจุภัณฑ์พลาสติกขึ้นรูปและบรรจุภัณฑ์ประเภทอื่น ๆ นอกจากนี้ยังใช้เป็นวิธีในการเร่งปรากฏการณ์
การรั่วไหลเนื่องจากการซึมผ่านของความชื้นผ่านฟิล์มปกป้องและ
เป็นการปรับเตรียมภาวะก่อนการทดสอบอื่น ๆ